原子力顯微鏡是一種高精度的納米級表征工具，能夠對多種類型的樣品進行表面形貌和物理性質的探測。然而，AFM原子力顯微鏡也存在一些限制，以下是原子力顯微鏡通常無法直接測試的樣品類型及相關注意事項：

表面起伏過大的樣品：由于原子力顯微鏡對樣品表面的平整度有嚴格要求，如果樣品表面存在較大的起伏，可能會導致部分表面無法被探測到，從而無法獲得真實的形貌。因此，這類樣品需要先進行表面平整化處理。

易損壞或易變形的樣品：在接觸式AFM原子力顯微鏡中，探針J端會與樣品進行實際接觸，這可能會損壞或改變一些脆弱或易變形的樣品。對于這類樣品，可能需要考慮使用非接觸式或輕敲式原子力顯微鏡模式，以減少對樣品的破壞。

特定環(huán)境下的樣品：雖然AFM原子力顯微鏡可以在大氣和液體環(huán)境下操作，但在某些J端環(huán)境下（如高溫、高壓、強磁場等），原子力顯微鏡的性能可能會受到影響，導致無法準確測試樣品。

不兼容的基底：樣品通常需要固定在基底上進行測試。如果樣品與所選基底不兼容（如化學反應、溶解等），則無法進行測試。因此，在選擇基底時需要考慮樣品的特性和測試環(huán)境。

導電性差的樣品：雖然AFM原子力顯微鏡可以檢測導體、半導體和絕緣體表面，但一些導電性極差的樣品可能在測試中產(chǎn)生噪聲或干擾，影響成像質量。對于這類樣品，可能需要采取特殊的制樣方法或測試條件。

樣品量不足：原子力顯微鏡測試需要一定的樣品量以確保測試的準確性和可靠性。如果樣品量不足（如液體樣品少于3mL，固體粉末樣品少于10mg等），則可能無法進行測試或結果不準確。

綜上所述，AFM原子力顯微鏡在測試樣品時具有一定的局限性。在準備測試樣品時，需要充分了解樣品的特性和測試需求，以確保測試的準確性和可靠性。