原子力顯微鏡探測到的原子力由兩種主要成分組成：一種是吸引力即范德瓦耳斯力；另外一種是電子云重疊而引起的排斥相互作用。

原子力顯微鏡AFM掃描的時間較短，如果掃描一幅圖像需要十多分鐘，那么周圍的點干擾，光干擾以及震動，溫度的變化等因素會直接影響到圖像的準(zhǔn)確性及完整性。

原子力顯微鏡的針尖是整個儀器很脆弱的部分，一碰即斷，所以要防止一切物體與針尖直接接觸，實驗過程中，若實驗采用的是接觸模式，周圍環(huán)境的震動會影響到圖形的測量結(jié)果，因此需要盡量保持實驗桌的穩(wěn)定，否則可能會破壞掃描出來的圖像。

原子力顯微鏡AFM的優(yōu)點

1、具有原子級的高分辨率，也就是可以分辨出單個原子，且放大倍率連續(xù)可調(diào)（幾百倍-上千倍）；與傳統(tǒng)的電子顯微鏡，特別是與掃描電子顯微鏡相比，原子力顯微鏡具有非常高的橫向分辨率（0.1-0.2nm）和縱向分辨率（0.01nm）。

2、能夠?qū)崟r的觀測表面的三維立體圖像，這種實時觀測的性能可以用于表面擴(kuò)散等物理化學(xué)過程的監(jiān)視及檢測。

3、可以在真空，大氣，常溫等不同的環(huán)境下進(jìn)行工作，甚至可以將樣品浸在水里面或是其他溶液中，并且不需要特別的制樣技術(shù)。探測的過程中不會對樣品造成損傷。可以對導(dǎo)體，半導(dǎo)體，絕緣體等多種樣品進(jìn)行觀察，可用于各種表面膜的實時觀測。

4、不需要高真空的必要工作條件，且體積小，成本低，性價比高，遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于一般的掃描電鏡。