1.樣品導(dǎo)電性不好，需要噴金嗎?

答:原子力顯微鏡對(duì)樣品表面的導(dǎo)電性沒(méi)有要求，可以測(cè)導(dǎo)電的和不導(dǎo)電的。

2.原子力顯微鏡可以分析材料的親疏水性嗎?如何判斷?

答:可以分析，需要用液下模式。

3.AFM和MFM都可以出形貌圖，這兩種有什么區(qū)別?以哪個(gè)為準(zhǔn)?

答;AFM原子力顯微鏡出的圖是形貌圖，MFM出的圖是抬起模式相圖也就是磁疇分布圖，在分析相圖時(shí)需要對(duì)比形息圖，分析兩者之間的差異從而得到磁分布的信息。

4.樣品尺寸較大，微米級(jí)的可以測(cè)嗎?檢測(cè)有必要嗎?

答:樣品尺寸橫向大小微米級(jí)的可以使用AFM測(cè)試，根據(jù)你想得到的材料信息來(lái)判斷有沒(méi)有檢測(cè)的心要，如果微米級(jí)起伏根據(jù)第4條回答來(lái)判斷

5.原子力顯微鏡力曲線中位移-力曲線和距離-力曲線如何轉(zhuǎn)化?轉(zhuǎn)化討程中需要注意哪些細(xì)節(jié)?

答:F-Z轉(zhuǎn)換成F-D曲線可以在分析軟件中修改，將displaymode改為Forcevssep就可以直接轉(zhuǎn)換。

6.樣品是粉未，疏松度疏松，測(cè)量時(shí)，會(huì)不會(huì)因?yàn)榉畚词杷桑瑴y(cè)不了啊?

答:一般粉末樣品需要分散到硅片或云母表面測(cè)試。

7.測(cè)量時(shí)，探針會(huì)不會(huì)將表面形貌破壞呢?

答:樣品較軟時(shí)采用峰值力輕敲模式掃描，將力設(shè)罟小一些就不會(huì)對(duì)表面形貌造成破壞。

8.磁學(xué)MFM測(cè)量探針的鍍層是Co的話，Co易氧化，如何保存?答:一般是Co-Cr的鍍層，不會(huì)被氧化，沒(méi)有特殊保存要求。10.AFM掃描過(guò)程中，力曲線反應(yīng)的是什么物理圖像?

答:力曲線反應(yīng)的是樣品與探針之間的作用力，

9.MESP針*大磁場(chǎng)可以加到多大?

答:MESP的探針矯頑力在400Oe，測(cè)試的樣品磁性較強(qiáng)時(shí)建議使用高矯頑力的探針或者低磁矩探針，

10.有鍍層的針會(huì)不會(huì)更粗一些?

答:不會(huì)，一般探針針尖在2nm，鍍層可以鍍的厚度很薄，可以忽略不算。

11.AFM圖上出現(xiàn)波紋狀結(jié)構(gòu)是什么原因呢?

答:AFM圖上出現(xiàn)波紋考慮是激光干涉或機(jī)械振動(dòng)，可以根據(jù)條紋的數(shù)量確定是高頻還是低頻噪聲，激光干涉的話需要重新調(diào)節(jié)激光的位置，機(jī)械振動(dòng)的話檢查氣浮臺(tái)和真空吸附開(kāi)關(guān)有沒(méi)有打開(kāi)。

12.電化學(xué)AFM原子力顯微鏡是哪種?

答:將接觸式的AFM原子力顯微鏡用于電解質(zhì)溶液研究電極的表面形貌，其力的作用原理與大氣中的原子力顯微鏡相同。