原子力顯微鏡可以在大氣和液體環(huán)境中準(zhǔn)確觀察樣品表面的三維形貌，研究樣品表面的物理化學(xué)性質(zhì)。那么AFM原子力顯微鏡具有哪些特點(diǎn)和工作模式呢呢？下面由小編給您簡單介紹下，希望可以幫助到您。

原子力顯微鏡的特點(diǎn)：

①高分辨率遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于掃描電子顯微鏡。樣品表面的三維數(shù)據(jù)滿足了越來越多的微觀研究、生產(chǎn)和質(zhì)量檢測(cè)的需要。

②應(yīng)用范圍廣，可用于表面觀察、表面粗糙度測(cè)量、粒度分析、成膜條件評(píng)價(jià)、保護(hù)層尺寸和臺(tái)階測(cè)量、層間絕緣膜平整度評(píng)價(jià)、定向膜摩擦處理工藝評(píng)價(jià)、缺陷分析等。

③AFM原子力顯微鏡具有強(qiáng)大的處理功能，其尺寸、視角、顯示色澤均可自由設(shè)置。并且可以選擇網(wǎng)絡(luò)、輪廓、線條顯示，圖像的宏觀處理、截面形狀和粗糙度分析、形態(tài)學(xué)分析等功能。

原子力顯微鏡的工作模式：

①非接觸模式

在非接觸模式下檢測(cè)樣品表面時(shí)，AFM原子力顯微鏡懸臂梁在樣品表面上方5~10 nm處振蕩。對(duì)于很多不能接觸測(cè)量的物體來說，是很有利的。

②敲擊模式

懸臂在標(biāo)本表面的共振頻率下擺動(dòng)，針尖僅短暫地接觸/敲擊樣品表面。這意味著當(dāng)針尖接觸樣品時(shí)產(chǎn)生的橫向力顯著降低。因此，在檢測(cè)樣品時(shí)，原子力顯微鏡的敲擊模式是理想的選擇之一。一旦AFM原子力顯微鏡開始成像，設(shè)備將輸入相關(guān)數(shù)據(jù)到系統(tǒng)中，如表面粗糙度、平均高度、峰谷之間的距離等，以更好的進(jìn)行表面分析。

上面的內(nèi)容就是小編給大家介紹的原子力顯微鏡的特點(diǎn)和工作模式。這些特點(diǎn)和工作模式就讓原子力顯微鏡的使用具有優(yōu)越性。如果您對(duì)于原子力顯微鏡還有什么想要了解的，您可以網(wǎng)站留言或是直接撥打4001-123-022聯(lián)系我們。下期精彩內(nèi)容再見！