原子力顯微鏡的知識咱們在之前的文章已經介紹過一部分了，下面小編來給大家介紹下原子力顯微鏡知識之樣品的制備

①樣品要求

原子力顯微鏡AFM研究對象可以是有機固體、聚合物以及生物大分子等，樣品的載體選擇范圍很廣，包括云母片、玻璃片、石墨、拋光硅片、二氧化硅和某些生物膜等，其中常用的是新剝離的云母片，主要原因是其非常平整且容易處理。而拋光硅片要用濃硫酸與30%雙氧水的7∶3 混合液在90 ℃下煮1h。利用電性能測試時需要導電性能良好的載體，如石墨或鍍有金屬的基片。

試樣的厚度，包括試樣臺的厚度可以達到10 mm。如果試樣過重，有時會影響Scanner的動作，請不要放過重的試樣。試樣的大小以不大于試樣臺的大小（直徑20 mm）為大致的標準。稍微大一點也沒問題。但是，可以達到的值不能超過40 mm。如果未固定好就進行測量可能產生移位。請固定好后再測定。

②樣品制備

粉末樣品的制備：粉末樣品的制備常用的是膠紙法，先把兩面膠紙粘貼在樣品座上，然后把粉末撒到膠紙上，吹去粘貼在膠紙上的多余粉末即可。

塊狀樣品的制備：玻璃、陶瓷及晶體等固體樣品需要拋光，注意固體樣品表面的粗糙度。

液體樣品的制備：液體樣品的濃度不能太高，否則粒子團聚會損傷針尖。（納米顆粒：納米粉末分散到溶劑中，越稀越好，然后涂于云母片或硅片上，手動滴涂或用旋涂機旋涂均可，并自然晾干）。

上面就是小編介紹的原子力顯微鏡樣品制備的知識。對于原子力顯微鏡您還有其他的問題，您直接網站留言或是撥打4001-123-022進行咨詢。咱們下期分享內容再見！