進行AFM原子力顯微鏡測試時對所測試樣品的有什么要求呢?

 新聞資訊     |      2023-06-21 09:07:20

原子力顯微鏡是一種高靈敏度的結構分析技術,它可以精確地分辨出樣品的微小結構特征,從而提供有關樣品的三維形貌和結構信息。由于它的高靈敏度和分辨率,AFM原子力顯微鏡已經成為在生物學、物理學、材料科學和化學等領域的Z常用的分析技術之一。

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要進行原子力顯微鏡分析,樣品要能夠吸附到平板上。因此,樣品的表面應該是光滑的,無明顯污漬和油污,且應該是靜電性的,以確保良好的吸附效果。對于有機物,應該有足夠的疏水性,以保證平整的表面并防止吸附液污染樣品。對于無機物,通常需要在表面上涂覆一層非晶膜,以改善表面的光滑度和疏水性。此外,由于AFM原子力顯微鏡反應較為敏感,因此樣品表面的溫度也應該保持穩定,以保證精確的測量結果。


在實際的原子力顯微鏡分析中,一般還要求樣品表面的平整度和粗糙度,以及樣品表面的形貌,都應該盡可能達到Z佳狀態。AFM原子力顯微鏡可以在空氣中研究樣品,但是這樣的研究結果容易受到濕度的影響,因此應盡量避免在空氣中研究。如果要在液體中研究,應使用適當的液體,以防止樣品溶解或氧化。

總之,要進行原子力顯微鏡分析,樣品的表面應該光滑、無污染,并具有適當的疏水性和靜電性,表面的形貌應該盡可能達到Z佳狀態,而且溫度應該保持穩定。如果要在液體中研究,應使用適當的液體,以防止樣品溶解或氧化。