AFM原子力顯微鏡經典案例分享（二）：納米層狀材料厚度表征

自二維材料T次提出至今，有大量的可用數據和高性能的器件演示證明了二維材料以其獨特的結構特征和物理化學性質使其在電子學、光電子學、催化、儲能、太陽能電池、生物醫學、傳感器、環境等方面具有巨大的潛在應用前景。

為了研究二維材料的形貌和厚度對其性能的影響，使用具有原子級分辨率的原子力顯微鏡能夠準確測量二維材料片層形貌大小及厚度。除表征片層厚度，AFM原子力顯微鏡還可以無損表征臺階或溝槽等需要測量高縱比結構的寬度和深度。

送樣須知

塊體、薄膜等待測樣品尺寸：5mm-210mm(可裁剪、破片的樣品尺寸可超過210mm)，高度：小于15mm。測試面需保持清潔無污染，不穩定的樣品需抽真空后寄樣防止樣品變質，特殊樣品可寄樣前溝通確認。

粉末、液體樣品需提供制樣條件，除超純水、乙醇外其它分散劑需送樣時自備，基底可選擇云母片和疏水硅片，特殊制樣可寄樣前提前溝通確認。

測試臺階樣品臺階高度、溝槽深度不超過10微米。