原子力顯微鏡，可用來研究材料表面結構的分析儀器，它通過檢測待測樣品表面和探針之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質。不同于透射電鏡和掃描電鏡只能觀察樣品的平面形貌，AFM原子力顯微鏡既可以測量樣品平面形貌，還可以測得三維形貌，高度，粗糙度，粒徑分布，材料性質等信息，它可以獲取到相對比較多的樣品信息。在樣品的準備方面上來說，不需要真空環境，大氣環境下就可以進行操作，既可以檢測導體、半導體表面，也可以檢測絕緣體表面。所以總的來講，原子力顯微鏡就是一種測試環境兼容有極高的分辨率，然后樣品制備簡單，可適用于導體，半導體，絕緣體的表面無損的測試手段。

為利用原子力顯微鏡磁力（MFM）功能模塊測試的AlCoCrFeNi高熵合金在1200℃下熱處理10小時后微觀組織磁疇分布圖。利用AFM原子力顯微鏡的形貌模式，無法得到材料的BCC和***區域，但通過MFM測試分析得出，a為相變前條狀***區域，b為相變后顆粒狀的BCC區域，c為納米級BCC基體，有效的解釋了合金發生***-BCC相變后其室溫飽和磁化強度提升的原因。利用原子力顯微鏡，助力于學校相關課題組發表了多篇高水平論文。