原子力顯微鏡對比于現有的其它顯微工具，以其高分辨、制樣簡單、操作易行等特點而備受關注，并在生命科學、材料科學等領域發揮了重大作用，極大地推動了納米科技的發展，促使人類進入了納米時代。

AFM原子力顯微鏡的針尖技術

目前，一般的探針式表面形貌測量儀垂直分辨率已達到0.1nm，因此足以檢測出物質表面的微觀形貌。普通的原子力顯微鏡探針材料是硅、氧化硅或氮化硅(Si3N4)，其Z小曲率半徑可達10nm。由于可能存在“擴寬效應”，針尖技術的發展在AFM原子力顯微鏡中非常重要。

探針針尖的幾何物理特性制約著針尖的敏感性及樣品圖像的空間分辨率。因此針尖技術的發展有賴于對針尖進行能動的、功能化的分子水平的設計。只有設計出更尖銳、更功能化的探針，改善原子力顯微鏡的力調制成像術和相位成像技術的成像環境，同時改進被測樣品的制備方法，才能真正地提高樣品表面形貌圖像的質量。