你知道AFM原子力顯微鏡常用的接觸模式、非接觸模式、輕敲（間歇性接觸）模式這三種模式應該如何選擇嗎？

接觸模式

探針尖D和樣品做“柔性接觸”，接觸力引起懸臂彎曲進而得到表面圖像，但是可能使樣品表面彎曲，長時間后針尖有鈍化現象影響圖像質量出現誤判，接觸模式可以產生穩定的、分辨率高的圖像。但是由于接觸所以容易變形、移動的樣品不適合。

非接觸模式

針尖在樣品上方振動，不與樣品接觸，探測器檢測的是范德華作用力和靜電力等作用力，該模式要求原子力顯微鏡的靈敏度更高，當針尖和樣品距離太長時，分辨率比其他模式都要低。適用于柔軟、有彈性的樣品。

輕敲（間歇性接觸）模式

微懸臂做受迫振動，振蕩的針尖輕輕敲擊樣品表面，間斷的和樣品接觸，反饋系統控制微懸臂的振幅恒定，針尖就跟隨表面起伏上下移動進而獲得形貌信息。輕敲模式比非接觸模式靠近樣品，比接觸模式對樣品傷害更少，也能得到和接觸模式一樣的分辨率。適用于一些不牢固的樣品，像生物大分子這樣的軟樣品也比較適合。樣品表面起伏較大的大型掃描比非接觸的更有效。