材料科學領域：原子力顯微鏡不但可以獲得材料表面的3D形貌、表面粗糙度和高度等信息，而且可以獲得材料表面物理性質分布的差異，例如摩擦力、阻抗分布、電勢分布、介電常數，壓電特性、磁學性質等。

聚合物科學領域：AFM原子力顯微鏡可以獲得表面的結構以及材料表面物理性質。對樣品進行加熱，可以研究聚合物的相變過程;結合環境腔，可以研究有機溶劑氣氛下聚合物表面結構演變過程，有助于解釋聚合物失效機理。

半導體工業領域：原子力顯微鏡可以檢測基片表面拋光缺陷、圖形化結構、薄膜表面形貌以及定量的表面粗糙度數據和深度信息，同時可以檢測表面缺陷(比如電流泄漏、結構缺陷、晶格錯位、缺陷密度和傳播等)以及表面阻抗、電勢分布、介電常數、摻雜濃度等，有利于半導體材料的可靠性、均一性和失效性分析。

電化學領域：AFM原子力顯微鏡可以原位研究電化學的沉積過程，揭示電化學的反應機理;可以原位研究金屬腐蝕過程，有助于解決金屬腐蝕機理;結合手套箱，可以原位研究鋰電池充放電過程，有利于提高電池效率。

生命科學領域：原子力顯微鏡不但可以原位檢測溶液下DNA，蛋白，細胞的精細結構，還可以對其進行力學和電學性質的測量，獲得生物樣品的楊氏模量以及阻抗特性。結合是德科技ZL分子識別技術，可以幫助研究人員快速識別分子級別的相互作用。