AFM原子力顯微鏡在晶體材料中的應用：專家學者經過不斷研究和分析得到了很多晶體生長的模型，但是經過更加深入的分析和研究發現這些理論模型和實際情況是否相同還是具有一定差異，也逐漸成為學者討論和研究的重點，所以人們希望通過顯微鏡來監測和觀察生長過程。雖然，使用傳統的顯微鏡已經觀測出一定的成果，但是由于這些光學顯微鏡、激光全息干涉技術等存在分辨率不是十分高、實驗條件不是很好以及放大不足等問題，使得研究過程出現很大困難，導致不能觀測納米級的分子等。

原子力顯微鏡的發展，為科學家們研究納米級分子或者原子提供了依據，也成為了專業人士研究晶體過程的重要方式。利用這種AFM原子力顯微鏡具有的能夠在溶液中觀察以及高分辨率等特點，可以保證科學家們能夠很好的觀測到晶體生長過程中的納米級圖像，從而不斷分析和掌握材料的情況。