影響AFM原子力顯微鏡工作的力介紹：現(xiàn)在讓我們了解一下操作過程中作用在懸臂和尖D上的兩個*重要的力。

范德華力/倫敦色散力： 將兩個或多個電中性體相互吸引的弱分子間電力稱為范德華力或倫敦色散力。

力與物體之間的距離成反比。在這種情況下，觀察的兩個物體是樣品和懸臂梁。

靜電力：這些力由兩個或多個帶電體相互施加。對于帶相同電荷的物體，該力是排斥力；對于帶相反電荷的物體，該力是吸引力。

當懸臂梁的尖D遠離物體表面時，范德華引力作用于其上，將其拉近。發(fā)生這種情況時，懸臂會向樣品表面彎曲。

尖D垂直接近表面。一旦足夠接近，實際上可以觀察到靜電排斥力的大小往往會變得更大并占主導地位。之前向表面彎曲的懸臂現(xiàn)在被推離表面。

這種排斥也是由于尖D無法穿透樣品造成的。這種偏轉的變化可以作為發(fā)現(xiàn)一些物理特性的基礎，例如觀察到的樣品的剛性。

因此，除了掃描之外，原子力顯微鏡還可以用于測量樣品作用在懸臂尖D上的力。