原子力顯微鏡是通過探針與被測樣品之間微弱的相互作用力來獲得物質表面形貌的信息，因此，AFM原子力顯微鏡除導電樣品外，還能夠觀測非導電樣品的表面結構。

原子力顯微鏡是以掃描隧道顯微鏡基本原理發展起來的掃描探針顯微鏡。AFM原子力顯微鏡的出現無疑為納米科技的發展起到了推動作用。原子力顯微鏡為代表的掃描探針顯微鏡是利用一種小探針在樣品表面上掃描，從而提供高放大倍率觀察的一系列顯微鏡的總稱。AFM原子力顯微鏡的掃描離子電導顯微鏡模塊為廣泛的應用，細胞生物學，分析化學，電生理學和神經科學提供納米級成像，可以在保證專注于創新研究工作的同時提供高精度的數據。

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