AFM原子力顯微鏡共有三種不同的工作模式，接觸模式，非接觸模式，以及共振模式或者輕敲模式。今天小編主要為大家介紹下接觸模式。

接觸模式包括恒力模式和恒高模式。在恒力模式中過反饋線圈調節微懸臂的偏轉程度不變，從而保證樣品與針尖之間的作用力恒定，當沿著X，Y軸方向掃描的時候，記錄Z方向上掃描器的移動情況來得到樣品的表面輪廓形貌圖像。這種模式由于可以通過改變樣品的上下高度來調節針尖與樣品表面之間的距離，這樣樣品的高度值較為準確，適用于物質的表面分析。在恒高模式中，保持樣品和針尖的相對高度不變，直接測量出微懸臂的偏轉情況，即掃描器在Z方向上的移動情況來獲得圖像。這種模式對樣品的高度變化比較敏感，可以實現樣品的快速掃描，適用于對分子，原子的圖像觀察。接觸模式的特點是探針與樣品表面緊密接觸并在表面上滑動。探針和樣品間的相互作用力是兩者相接觸原子間的排斥力，接觸模式通常就是靠這種排斥力來獲得穩定，高分辨樣品表面形貌圖像。但是由于針尖在樣品表面上滑動及樣品表面與針尖的粘附力，可能使得針尖受到損害，樣品產生變形，故對不易變形的低彈性樣品存在缺點。

以上就是今天小編為大家介紹的原子力顯微鏡工作模式中的接觸模式，希望能給大家帶來一些幫助，想要了解更多AFM原子力顯微鏡的信息，請關注我們的官方網站。