原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM）是一種用于研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它通過檢測樣品表面和微型力敏感元件之間極微弱的原子間相互作用力，來研究物質的表面結構及性質。

AFM原子力顯微鏡的基本原理是將一對微弱力J端敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖接近樣品，這時針尖與樣品表面將產生相互作用力。這種作用力會使微懸臂發生形變或運動狀態發生變化。掃描樣品時，利用傳感器檢測這些變化，就可獲得作用力分布信息，從而以納米級分辨率獲得表面形貌結構信息及表面粗糙度信息。

原子力顯微鏡的主要功能包括獲得樣品表面納米及微米區域的形貌、粗糙度、摩擦力和表面其它力、接觸模式、輕敲模式、力曲線等。它廣泛應用于物理學、材料科學、生命科學等微納米操作技術領域，尤其在導體和絕緣體薄膜樣品的原子級分辨率形貌觀察、分析方面發揮著重要作用。

在AFM原子力顯微鏡的設計中，力檢測模塊、位置檢測模塊和反饋系統是關鍵部分。當原子力顯微鏡探針的針尖與樣品接近時，針尖原子和樣品表面原子之間的相互作用力會導致懸臂梁發生偏轉，從而引起反射光的位置發生改變。當探針在樣品表面掃過時，光電檢測系統會記錄激光的偏轉量（懸臂梁的偏轉量），并將其反饋給系統。*終通過信號放大器等將其轉換成樣品的表面形貌特征。

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