原子力顯微鏡可以用于研究各種材料的表面結(jié)構(gòu)和形貌，包括金屬、半導(dǎo)體、絕緣體、高分子聚合物、生物分子等。AFM原子力顯微鏡可以觀察到這些材料的表面粗糙度、幾何形狀和微觀結(jié)構(gòu)，并且還可以用于研究材料的物理性質(zhì)，如彈性、硬度、粘附力等。

原子力顯微鏡的研究對(duì)象可以是有機(jī)固體、聚合物以及生物大分子等，樣品的載體選擇范圍很大，包括云母片、玻璃片、石墨、拋光硅片、二氧化硅和某些生物膜等。其中，Z常用的是新剝離的云母片，主要原因是其非常平整且容易處理。而拋光硅片Z好要用濃硫酸與30%雙氧水的7∶3混合液在90℃下煮1h。利用電性能測(cè)試時(shí)需要導(dǎo)電性能良好的載體，如石墨或鍍有金屬的基片。試樣的厚度，包括試樣臺(tái)的厚度，Z大為10mm。如果試樣過(guò)重，有時(shí)會(huì)影響Scanner的動(dòng)作，請(qǐng)不要放過(guò)重的試樣。試樣的大小以不大于試樣臺(tái)的大小（直徑20mm）為大致的標(biāo)準(zhǔn)，稍微大一點(diǎn)也沒(méi)問(wèn)題。但是，Z大值約為40mm。如果未固定好就進(jìn)行測(cè)量可能產(chǎn)生移位，請(qǐng)固定好后再測(cè)定。

此外，AFM原子力顯微鏡還可以用于研究納米材料和納米結(jié)構(gòu)，例如納米顆粒、納米線、納米片等材料的形貌和尺寸。在物理學(xué)領(lǐng)域，原子力顯微鏡被用于研究量子力學(xué)和表面物理現(xiàn)象，例如測(cè)量表面勢(shì)壘、表面張力、摩擦力等物理量。

原子力顯微鏡可以在大氣、控制氣體、各種液體和電化學(xué)等環(huán)境下工作。其可控工作和成像溫度范圍是室溫――250℃，溫度誤差±1℃。AFM原子力顯微鏡具有多種掃描成像模式，包括力－位移曲線、間歇接觸成像模式、相位成像模式、側(cè)向力成像模式和磁力工作模式等。同時(shí)，原子力顯微鏡還具有納米表面加工功能。

總而言之，afm原子力顯微鏡是一種功能強(qiáng)大的表面分析工具，能夠提供材料表面的詳細(xì)信息，對(duì)于材料科學(xué)研究和應(yīng)用具有重要意義。