原子力顯微鏡 (Atomic Force Microscope，AFM) 是一種先進的顯微鏡技術，它利用原子間的相互作用力來觀察和測量樣品表面的特征。這項令人激動的技術在材料科學、生物學和納米技術等領域中得到了廣泛應用。那么，原子力顯微鏡可以測什么呢？它有哪些應用呢？

原子力顯微鏡可以測量樣品表面的形貌和拓撲結構。通過在樣品表面掃描探測器，原子力顯微鏡可以獲得非常高的空間分辨率，達到亞納米級。這使得我們可以觀測到樣品表面的微小凹陷、突起或其他形狀特征，從而了解其表面形貌的細節。

原子力顯微鏡可以測量樣品表面的磁性和電性。一些原子力顯微鏡配備了磁性探針或電導探針，可以通過測量樣品表面的磁場或電流來揭示其磁性或電性特性。這為研究材料的磁性性質以及晶格缺陷、導電性等提供了重要信息。

原子力顯微鏡還可以測量樣品表面的力學性質。通過對掃描探測器施加力量，原子力顯微鏡可以測量樣品表面的硬度、彈性模量和摩擦力等力學性質。這對于材料力學性質的研究和納米尺度的材料表征非常有用。

除了以上應用，原子力顯微鏡還可用于研究生物分子的結構和相互作用力。在生物學實驗中，原子力顯微鏡可以用來觀察蛋白質、DNA和細胞膜等生物分子的形態、結構和相互作用力。這種高分辨率的觀測能力為研究生物領域中的蛋白質折疊、細胞黏附和細胞力學等問題提供了強有力的工具。

原子力顯微鏡是一種非常強大的表征工具，它可以廣泛應用于材料科學、生物學和納米技術等領域。它可以測量樣品表面的形貌和拓撲結構、磁性和電性特性，以及力學性質。此外，它還可以用于研究生物分子的結構和相互作用力。通過使用原子力顯微鏡，科學家們能夠更深入地了解物質的微觀性質，進一步推動科學研究和技術創新的發展。