AFM原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope）是一種高精度的納米級顯微鏡，廣泛應用于材料科學、生物學、半導體、納米科技等領域。它利用原子間作用力探測樣品表面的微小高度變化，能夠實現高分辨率的成像，并提供有關材料結構、力學性質和表面特征的詳細信息。下面我們將探討一下AFM原子力顯微鏡能夠測量的對象。

AFM原子力顯微鏡可以測量材料的表面形貌。通過探針和樣品之間的引力或斥力來調整探針的位置，AFM可以實時測量樣品表面高度的變化情況。由于其高分辨率和靈敏度，可以觀察到納米級的細微結構，揭示材料表面的微觀形貌。

AFM原子力顯微鏡可以測量材料的機械性能。在測量過程中，探針對樣品表面施加微小的力量，通過檢測探針的彎曲和振動來推斷材料的硬度、彈性模量和粘彈性等力學參數。這對于研究材料加工、力學行為和材料工程具有重要意義。

AFM原子力顯微鏡還可以測量材料的磁性和電學性質。在一些特殊的AFM模式中，可以通過探針的磁性或電導性來探測樣品表面的磁場或電場分布。這對于研究磁性材料、器件和納米電子學等領域具有重要意義。

還有一個重要的應用是在生物學領域。AFM原子力顯微鏡可以測量生物樣品的細胞形態、膜的力學特性和生物分子的相互作用力。這為研究細胞力學、生物膜結構和生物分子相互作用的機制提供了有力的工具。

AFM原子力顯微鏡是一種功能強大的儀器，可應用于多個領域的研究和應用。它可以測量材料的表面形貌、機械性能、磁性和電學性質，以及生物樣品的細胞形態和相互作用力。通過用途的廣泛性和高精度的測量，AFM原子力顯微鏡為科學研究和技術創新提供了重要的幫助。