原子力顯微鏡測試圖像出現假象的原因可能有以下幾種：

1、針尖效應：針尖的曲率半徑非常小，但不可能達到零，因此對于凸起的形貌，會造成圖像的“放大效應”，而對于凹陷的形貌，則會造成圖像的“縮小效應”。此外，當針尖的曲率半徑大于樣品特征尺寸時，也會出現假象。

2、磨損或被污染：當針尖磨損或有污染物時，獲得的圖像可能是針尖的磨損形狀或污染物的形狀，而不是樣品的真實形貌。

3、樣品污染：樣品表面的污染物可能被正在掃描的針尖帶走并隨針尖運動，導致大面積圖像模糊不清。

4、掃描參數設置不當：掃描速度過快、掃描電壓太小等參數設置不當，可能導致圖像出現拖尾、模糊等假象。

5、環境因素：測試環境中的噪聲、振動等干擾因素也可能導致圖像出現假象。

6、熱漂移假象：由于壓電陶瓷管的發熱、壓電驅動器的滯后效應以及儀器零件線性膨脹系數的差異等，可能造成熱漂移，從而導致圖像出現假象。

7、掃描器非線性：壓電陶瓷材料在等差等距電壓下的非等間隔伸縮、升降壓階段位移不重合以及Z方向位移和角度變化導致的弧形運動軌跡，都可能引起圖像假象。

為了獲得更準確的AFM原子力顯微鏡測試圖像，可以采取以下措施：選擇合適的針尖、保持針尖和樣品的清潔、優化掃描參數設置、減少環境干擾、進行儀器校準等。同時，對于已經獲得的圖像，也可以通過去卷積等處理方法來減少假象的影響。

請注意，以上只是一些可能的原因和解決方法，具體情況可能因實驗條件、樣品特性等因素而有所不同。因此，在進行原子力顯微鏡測試時，建議根據具體情況進行細致的分析和調整。