想測量二維材料的厚度，使用AFM原子力顯微鏡是可行的。AFM原子力顯微鏡是一種高分辨率的成像表征工具，它能夠輕易的測量原子臺階厚度以及原子晶格結(jié)構來表征二維材料。

以下是使用AFM原子力顯微鏡測量二維材料厚度的一般步驟：

1、AFM原子力顯微鏡儀器開機：確認電源與控制機箱連接線無誤后，依次打開計算機電源、機箱低壓電源、高壓電源、激光器電源。

2、安裝樣品以及探針進給：安裝好樣品后將固定螺栓微微旋緊，然后將樣品與探針逼近到進入原子力狀態(tài)。儀器提供粗調(diào)和細調(diào)兩種進給機構，每次測試前先將細調(diào)旋鈕反向退到底，用粗調(diào)機構進樣至離探針約一定距離。

3、選擇合適的實驗模式和參數(shù)：根據(jù)實驗需求和二維材料的特性，選擇合適的實驗模式和參數(shù)。例如，選擇接觸模式、非接觸模式或輕敲模式等。

4、進行掃描和測量：啟動掃描程序，讓探針在二維材料表面進行掃描。在掃描過程中，原子力顯微鏡會記錄下探針與樣品表面之間的相互作用力，從而得到樣品表面的形貌和厚度信息。

5、數(shù)據(jù)處理和分析：使用相關的軟件對掃描得到的數(shù)據(jù)進行處理和分析，提取出二維材料的厚度信息。根據(jù)需要進行數(shù)據(jù)的統(tǒng)計、圖形化顯示等操作。

需要注意的是，使用AFM原子力顯微鏡測量二維材料厚度時，可能會受到基底粗糙度和樣品制備方法的影響。為了獲得更可靠的測量結(jié)果，可以采用原子級平整襯底（如云母和石墨）來制備二維材料。此外，在進行實驗前，需要對儀器進行校準和調(diào)試，以確保測量結(jié)果的準確性和可靠性。

以上步驟僅供參考，具體使用步驟可能因儀器型號和實驗需求而有所不同。因此，在使用AFM原子力顯微鏡測量二維材料厚度時，建議參考儀器說明書和實驗指導手冊進行操作。