原子力顯微鏡（AFM）的技術標準主要包括以下幾個方面：

分辨率：這是衡量AFM性能的關鍵指標，包括側向分辨率和垂直分辨率。側向分辨率主要受到采集圖像的步寬和針尖形狀的影響，而垂直分辨率則主要取決于針尖剛性和系統噪聲。

成像模式：AFM支持多種成像模式，如ScanAsyt（全自動掃描模式）、Contact AFM（接觸模式）、Tapping mode（輕敲模式）以及LiftMode（抬高模式）。這些模式的選擇應根據具體的實驗需求和應用來確定。

掃描范圍：X-Y向掃描范圍通常會在技術指標中給出，例如12μm×12μm或90μm×90μm。這個范圍決定了AFM能夠掃描的樣品尺寸。

噪聲水平：噪聲水平是衡量AFM性能的一個重要參數，通常以RMS（均方根）值表示。低噪聲水平有助于提高成像質量。

控制器和放大器：一些**的AFM可能會配備全數字鎖相放大器，提供定量相位成像功能，并可以直接實現縱向和橫向壓電響應模式。

數據獲取和處理能力：例如，每條掃描線可獲得的數據點數量，以及是否具備數字Q控制功能來提高信噪比。

掃描器：AFM可能配備大掃描器和小掃描器，用于在不同的尺度上掃描樣品。

檢測器：例如，生物性原子力顯微鏡可能會使用紅外超發光二極管（SLD）進行撓度檢測。

需要注意的是，不同的AFM可能會有不同的技術標準和配置，用戶在選擇和使用時應根據具體的應用需求來確定*合適的參數和模式。