原子力顯微鏡在高分子表征中的應用非常廣泛。AFM原子力顯微鏡是一種在納米尺度上表征材料表面形貌結構、性能和演變的有效工具，特別適用于高分子科學領域。它可以表征高分子從單分子鏈到聚集態結構的形貌與性能，同時能夠原位研究外場作用下高分子結晶與熔融、嵌段高分子自組裝和共混高分子相分離等過程。

在高分子表征中，原子力顯微鏡的樣品制備、掃描參數優化和圖像數據處理都是關鍵要點。利用AFM原子力顯微鏡，可以高分辨率地表征高分子材料的表面形貌，并分析與作用力相應的表面性質。例如，摩擦力顯微鏡可用于研究高分子材料的摩擦系數，磁力顯微鏡可用于研究樣品表面的磁疇分布，電力顯微鏡則可以分析樣品表面電勢、薄膜的介電常數和沉積電荷等。

此外，原子力顯微鏡在高分子表征中還可以進一步采用基于掃描探針刻蝕技術的機械刻蝕、電致刻蝕和熱致刻蝕等方法，構筑高分子功能化微圖案。這些功能化的微圖案在材料科學、生物醫學等領域具有廣泛的應用前景。

綜上所述，AFM原子力顯微鏡在高分子表征中的應用非常廣泛，不**于形貌和性能的表征，還包括外場作用下的過程研究和功能化微圖案的構筑等方面。它為高分子科學領域的研究提供了有力的工具和方法。