原子力顯微鏡對樣品的具體要求如下：

樣品表面：必須干凈、平整和均勻，任何污染物或不均勻的表面都可能影響測試的精確性和準確性。同時，樣品表面起伏不應超過一定范圍，例如15μm。對于薄膜樣品，要求上下表面平整，高低起伏小于1μm。

樣品尺寸和高度：一般要求樣品大小不超過1cm，高度也應控制在1cm以內。測試薄膜厚度應控制在15μm以下，尺寸不大于2*2cm。然而，也有AFM原子力顯微鏡設備的測試樣品尺寸可達直徑210mm，厚度15mm。具體尺寸要求可能會因設備和測試需求的不同而有所變化。

樣品材質：可以是有機固體、聚合物以及生物大分子等。對于有機物樣品，應具有足夠的疏水性，以保證平整的表面并防止吸附液污染樣品。對于無機物，有時需要在表面上涂覆一層非晶膜，以改善表面的光滑度和疏水性。

樣品環境：樣品必須保持在干燥的環境中，如果樣品表面有水分或其他液體殘留物，可能會導致測試結果不準確。液體樣品應配好膠體溶液，保證樣品均勻分散，要求無沉積，溶液澄清透明。

導電性：對于C-AFM和PFM測試，樣品需要具有導電性。

特定樣品處理：對于某些特殊樣品，如納米線、納米管等，需要進行特殊處理以保證成像質量。

請注意，這些要求可能因不同的原子力顯微鏡設備和應用場景而有所差異。在進行AFM原子力顯微鏡測試前，建議仔細閱讀設備說明書，并根據具體測試需求調整樣品制備和處理方法。同時，與具有原子力顯微鏡操作經驗的專家或技術支持團隊進行溝通也是非常重要的，以確保測試的準確性和有效性。