原子力顯微鏡探針在使用中需要注意以下要點：

樣品與探針的選擇：根據(jù)測試目的、研究問題以及樣品的形態(tài)、尺寸等特點，選擇合適的樣品臺及探針。

探針的檢查與校準(zhǔn)：使用前應(yīng)仔細(xì)檢查探針是否損壞、畸變或過度使用，若有異常應(yīng)立即更換，并進(jìn)行相應(yīng)的校準(zhǔn)。

樣品臺的水平保持：在使用時，應(yīng)保持樣品臺的水平狀態(tài)，避免在移動過程中突然遇到障礙物或突然停頓，以防止樣品及探針的損傷。

探頭的安裝與更換：確保探頭正確安裝并夾緊，避免意外脫落。若探頭不適合當(dāng)前測量要求，應(yīng)更換合適的探頭。

環(huán)境因素的考慮：在操作過程中，應(yīng)避免重金屬或電磁干擾，并保持實驗室的適宜環(huán)境（如溫度、濕度、灰塵及噪音等），以維持實驗的穩(wěn)定性和可重復(fù)性。

觀測與記錄：在觀測實驗時，應(yīng)隨時關(guān)注樣品及儀器運(yùn)行狀態(tài)，及時記錄實驗數(shù)據(jù)，避免誤操作。

此外，針對AFM原子力顯微鏡的成像模式，還有以下注意事項：

接觸模式：該模式下，探針針尖始終與樣品表面保持接觸，因此力的大小范圍在10^-10～10^-6N。對于表面柔嫩而不能承受這樣力的樣品，不宜選用接觸模式。

非接觸模式：在此模式下，懸臂在距離試樣表面上方5～10nm處振蕩。然而，在室溫大氣環(huán)境下實現(xiàn)這種模式可能較為困難，因為樣品表面可能會積聚空氣中的水，影響測試效果。

輕敲模式：此模式下，探針在Z軸維持固定頻率振動，當(dāng)振動到谷底時與樣品接觸，對樣品破壞小，分辨率幾乎同接觸模式相同。此模式適于觀測軟、易碎或膠粘性樣品。

綜上所述，為了確保原子力顯微鏡探針的正確使用和測試結(jié)果的準(zhǔn)確性，需要嚴(yán)格遵循上述注意事項。