在使用原子力顯微鏡的探針時，需要注意以下幾點：

探針選擇與處理：根據測試的目的、研究的問題及樣品的形態、尺寸等特點選擇合適的探針。探針是直接接觸樣品表面的部分，因此對其干凈度和質量要求很高。在使用之前，應確保探針表面沒有雜質和污染物，常見的處理方法包括使用超聲波清洗、離子交換法等。同時，存放探針時，要注意避免其與空氣、塵埃等接觸，可以使用特殊的存放盒或容器。

探針夾持與校準：在使用前，應仔細檢查探針是否損壞、畸變或過度使用，若有異常應立即更換探針，并進行對應的探針校準。安裝探針時，要輕輕地將探針夾安裝在掃描器底部，切勿過度用力，以免損壞掃描器。

樣品制備：樣品的制備對于AFM原子力顯微鏡測試的準確性和有效性至關重要。樣品表面應干凈、平整和均勻，無污染物或不均勻表面。樣品B須保持干燥，避免水分或其他液體殘留物對測試結果的影響。對于有機物樣品，應具有足夠的疏水性。此外，樣品的大小和高度也需要控制在一定范圍內。

顯微鏡參數調節：不同的樣品材料和形態需要不同的參數設置，因此在實際使用中需要根據樣品的特點進行調整。常見的參數包括掃描速度、掃描范圍、掃描模式等，合理選擇這些參數可以提高測量的準確性和效率。

環境條件：在使用原子力顯微鏡時，需要避免重金屬或電磁干擾，并保持實驗室的適宜環境，如溫度、濕度、灰塵及噪音等，以維持實驗的穩定性和可重復性。

總之，在使用AFM原子力顯微鏡的探針時，應綜合考慮探針的選擇、處理、夾持與校準，樣品的制備，原子力顯微鏡參數的調節以及環境條件等多個方面，以確保測試的準確性和有效性。