原子力顯微鏡的不同成像模式（接觸式、非接觸式和輕敲式）對樣品的要求雖然有一些共同之處，但也存在一些差異。

S先，對于所有AFM原子力顯微鏡模式，樣品通常需要滿足以下基本條件：

樣品表面應該是光滑的，無明顯污漬和油污，以確保原子力顯微鏡探針能夠準確掃描樣品表面。

樣品需要能夠吸附到平板上，這通常要求樣品表面具有靜電性。

樣品表面的溫度應該保持穩定，以保證精確的測量結果。

然而，不同模式對樣品的具體要求也有所不同：

接觸式AFM原子力顯微鏡：

在接觸模式中，原子力顯微鏡探針的J端會與樣品表面做柔軟性的“實際接觸”。因此，樣品表面需要足夠硬和耐磨，以防止在掃描過程中被探針劃傷或磨損。

由于是接觸式掃描，可能會對樣品表面造成一定程度的壓縮或變形。因此，對于柔軟或易變形的樣品，可能需要謹慎選擇接觸模式。

非接觸式AFM原子力顯微鏡：

在非接觸模式中，原子力顯微鏡探針的J端在樣品表面的上方振動，不與樣品接觸。因此，對樣品表面的硬度要求相對較低。

非接觸模式適用于對樣品表面無破壞性的成像，特別適用于柔軟、易變形或易污染的樣品。

輕敲式AFM原子力顯微鏡：

輕敲式原子力顯微鏡結合了接觸式和非接觸式的優點，通過微懸臂在其共振頻率附近做受迫振動，使振蕩的針尖輕輕敲擊樣品表面。

輕敲模式適用于各種不同類型的樣品，包括柔軟、易變形或易污染的樣品。然而，由于輕敲模式對懸臂的振動頻率和振幅有較高要求，因此可能需要更復雜的設備和技術來實現高質量的成像。

總的來說，雖然不同模式的AFM原子力顯微鏡對樣品的要求有一些共同之處，但也存在一些差異。在選擇合適的原子力顯微鏡模式時，需要考慮樣品的類型、性質和成像要求等因素。