原子力顯微鏡的制樣要求主要確保樣品能夠準(zhǔn)確、有效地進(jìn)行原子級(jí)別的觀測(cè)和分析。以下是一些關(guān)鍵的制樣要求：

樣品表面應(yīng)干凈、平整和均勻。任何污染物或不均勻的表面都可能影響AFM原子力顯微鏡測(cè)試的精確性和準(zhǔn)確性。這可以通過氮?dú)獯祾呋蚓凭仍噭┣逑磥韺?shí)現(xiàn)。

樣品B須保持在干燥的環(huán)境中。如果樣品表面有水分或其他液體殘留物，可能會(huì)導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確，因?yàn)橐后w可能會(huì)在掃描過程中干擾樣品表面的結(jié)構(gòu)。

樣品尺寸應(yīng)足夠小，以確保在測(cè)試過程中樣品表面的任何變化都可以被檢測(cè)到。通常，樣品大小一般不超過1厘米，高度也應(yīng)控制在1厘米以內(nèi)。如果樣品過大，可能會(huì)導(dǎo)致一些細(xì)節(jié)被忽略或掩蓋。

對(duì)于不同類型的樣品，需要采取不同的制備策略。例如，塊體樣品和薄膜樣品在清潔后可以直接固定在樣品臺(tái)上進(jìn)行測(cè)試；而生物樣品，如DNA分子和細(xì)胞等，可能需要特定的吸附固定方式，如加入二價(jià)陽離子以增強(qiáng)DNA和云母基底間的相互作用力，或者將細(xì)胞種在培養(yǎng)皿中進(jìn)行液下成像。

對(duì)于有機(jī)物樣品，應(yīng)具有足夠的疏水性，以保證平整的表面并防止吸附液污染樣品。

對(duì)于某些特殊樣品，如納米線、納米管等，可能需要進(jìn)行特殊處理以保證成像質(zhì)量。

在制樣過程中，還需要注意一些細(xì)節(jié)。例如，在液下成像時(shí)，Z簡單的方法是在樣品表面滴一滴液體，但液體高度不能高于保護(hù)套高度。如果要把樣品粘在大的基底上，需要注意所用的膠不能是水溶性的。

總的來說，原子力顯微鏡的制樣要求是為了確保樣品能夠在原子級(jí)別上進(jìn)行準(zhǔn)確、有效的觀測(cè)和分析。在制樣過程中，需要遵循這些要求，并根據(jù)具體的樣品類型采取相應(yīng)的策略。