AFM原子力顯微鏡是一種高分辨率的掃描探針顯微鏡，其測量能力涵蓋了多種材料。具體來說，原子力顯微鏡可以測量以下類型的材料：

固體材料：

導體和半導體材料：AFM原子力顯微鏡能夠像掃描隧道顯微鏡(STM)那樣觀察導體和半導體材料的表面現象。

非導體材料：原子力顯微鏡特別適用于觀察諸如玻璃、陶瓷等非導體表面的微觀結構。

其他材料狀態：

AFM原子力顯微鏡還可以在氣體、水和油中無損傷地直接觀察物體，這大大拓展了顯微技術的應用領域。

測量內容：

原子力顯微鏡能夠測量各種材料表面的形貌、粗糙度、彈性、硬度、化學反應等特性。

表面形貌：AFM原子力顯微鏡可以獲取表面形貌的高分辨率圖像，包括表面起伏、溝壑、顆粒大小等特征。

表面粗糙度：原子力顯微鏡可以測量表面微小起伏和波紋的幅度和頻率，有助于研究表面加工質量和材料表面處理效果。

彈性和硬度：AFM原子力顯微鏡可以測量樣品的彈性模量、泊松比以及硬度等參數，對于研究材料力學性能和內部結構具有重要意義。

化學反應：原子力顯微鏡可以觀察表面化學反應的動態過程，如化學反應前后表面形貌的變化和化學反應產物的生成。

總結來說，AFM原子力顯微鏡的測量能力廣泛，幾乎涵蓋了所有類型的材料，為納米科學研究領域提供了重要的實驗手段。