原子力顯微鏡可以通過懸臂掃描特定區域來完成樣品的表面形貌成像，激光束被用于檢測懸臂靠近表面。

原子力顯微鏡AFM在一定程度上彌補了普通掃描顯微鏡的缺陷，提高了檢測的分辨率。

眾所周知，顯微鏡的發明把人們的視野從宏觀世界帶到了微觀世界，原子力顯微鏡的出現是人們觀察微觀世界的又一個里程碑。

納米復合材料進行科學的發展和納米制備方法技術的進步，將需要不斷更新的測試數據技術和表征手段，以評價研究納米粒子的粒徑、形貌、分散和團聚狀況。

1986年原子力顯微鏡 AFM誕生，彌補了掃描隧道顯微鏡（STM）不能觀測非導電樣品的缺陷。

原子力顯微鏡探測到的原子力由兩種主要成分組成：一種是吸引力即范德瓦耳斯力；另外一種是電子云重疊而引起的排斥相互作用。