原子力顯微鏡是一種高分辨率的顯微技術，能夠直接觀測納米級別的表面形態、粗糙度、力學性質等，因此在觀察生物細胞的表面形態方面具有獨特的優勢。以···

AFM（Atomic Force Microscope），即原子力顯微鏡，是一種高分辨率的掃描探針顯微鏡技術，由Gerd Binnig、Heinrich Rohrer和Calvin Quate于1986年共同···

原子力顯微鏡是一種利用微力探針對樣品表面進行成像和測量的高分辨率顯微鏡技術。其探針作為核心部件，根據應用需求和技術特點有多種分類。以下是對AF···

科研級AFM（原子力顯微鏡）原子力顯微鏡具有一系列先進的功能，使其成為科學研究和技術開發中的重要工具。以下是其主要功能：一、高分辨率成像 納米級···

原子力顯微鏡在絕緣體領域的應用十分廣泛，以下是對其應用的詳細介紹：一、AFM原子力顯微鏡的基本原理 原子力顯微鏡是一種用來研究包括絕緣體在內的固···

原子力顯微鏡可以用來觀察硅片。原子力顯微鏡（Atomic Force Microscopy，AFM）是一種具有高分辨率的新型表面分析儀器，具有原子級別的識別能力，可以···