原子力顯微鏡是一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作···

原子力顯微鏡（AFM）是利用檢測樣品表面與細微的探針針尖之間的相互作用力（原子力）測出表面的形貌。探針尖尖在小的軔性的懸臂上，當探針接觸到樣品表···

使用原子力顯微鏡可以監測分子束外延后CdTe/Si復合襯底的表面情況。Si基襯底分子束外延后的CdTe薄膜表面不是很精密而是存在一些微觀凹坑，峰谷值P-V為···

原子力顯微鏡提供原子或近原子解析度的表面形貌圖像，能夠定量樣品的表面粗糙度到＂?＂等級。除了提供表面圖像之外，AFM也可以提供形態的定量測量，如···

微儀光電（天津）有限公司全力支持關于《中華人民共和國廣告法》實施的“極限化違禁詞”相關規定，且已竭力規避使用相關“違禁詞”（如*、佳、頂級）···

簡單分析下原子力顯微鏡的結構