原子力顯微鏡在半導體工業中的核心優勢：AFM原子力顯微鏡作為納米級表征的J端工具，在半導體工業中展現出高分辨率、多功能性、非破壞性三大核心優勢，···

Peak-Force Tuna和C-AFM測試之間的區別？ TUNA電流是探針要觸及樣品后的隧穿電流值，反應了樣品的導電性，同時探針不會對樣品造成損壞，可以說即可以表···

原子力顯微鏡是一種基于測量樣品表面與超銳探針之間相互作用力的顯微鏡，其工作模式的選擇取決于樣品的性質、所需的分辨率、掃描速度以及對樣品可能造···

原子力顯微鏡是一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器，它能夠以納米級分辨率獲得表面形貌結構信息及表面粗糙度信息，是觀察微觀···

原子力顯微鏡的工作模式主要分為以下三類，每種模式對應不同的應用場景和測量原理：1. 接觸模式（Contact Mode） 原理：探針J端與樣品表面直接接觸，通···

原子力顯微鏡在摩擦學研究領域具有廣泛的應用，其高分辨率和納米級探測能力使其成為研究摩擦學特性的重要工具。以下是對AFM原子力顯微鏡在摩擦學研究領···