原子力顯微鏡探針是一種具有原子分辨率的表面形貌、電磁性能分析的重要儀器。1981年，STM（scanningtunnellingmicroscopy,掃描隧道顯微鏡）由IBM-Zuri···

原子力顯微鏡利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作用力，從而達到檢測的目的，具有原子級的分辨率。由于原子力顯微鏡既可以觀察···

物理學中，原子力顯微鏡可以用于研究金屬和半導體的表面形貌、表面重構、表面電子態及動態過程，超導體表面結構和電子態層狀材料中的電荷密度等。

隨著樣品處理技術在液體中成像技術的改善，應用AFM原子力顯微鏡觀察復雜的生化過程成為可能。

原子力顯微鏡探測到的原子力由兩種主要成分組成：一種是吸引力即范德瓦耳斯力；另外一種是電子云重疊而引起的排斥相互作用。

AFM原子力顯微鏡共有三種不同的工作模式，接觸模式，非接觸模式，以及共振模式或者輕敲模式。今天小編主要為大家介紹下接觸模式。