由于該產品已進行多次功能升級和更新迭代,我們不保證原子力顯微鏡 WY-6800-AFM提供的圖片和各項參數等信息完全一致,我們建議您點擊此處聯系我們的在線工程師為您服務,同時我們也歡迎您電話咨詢:4001-123-022
◆性能特點:
激光檢測頭和樣品掃描臺集成一體,結構非常穩定,抗干擾性強。
精密探針定位裝置,激光光斑對準調節非常簡便。
單軸驅動樣品自動垂直接近探針,使針尖垂直于樣品掃描。
馬達控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式,保護探針及樣品。
高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器,可自由選擇。
高倍物鏡自動光學定位,無需調焦,實時觀測與定位探針樣品掃描區域。
彈簧懸掛式防震方式,簡單實用,防震效果好。
金屬屏蔽隔音箱,內置高精度溫濕度傳感器,實時監測工作環境。
集成掃描器非線性校正用戶編輯器,納米表征和測量精度優于98%。
◆測量范圍及應用:
測量范圍:二維、三維、Z值、相位、表面形貌、粗糙度、膜厚、形貌、相位。
應用:納米材料、石墨烯、薄膜、鈍化膜、短切玻纖復材、分子篩、TiO2、CrPS4(15)、CrPS4(16)、中空纖維膜絲、粗糙度測試、四氧化三鐵、M13-PBA等。
◆ 應用案例 Application Case
序號 | 名稱 | 技術參數 |
01 | 工作模式 | 接觸模式、輕敲模式 |
02 | 選配模式 | 摩擦力/側向力、振幅/相位、磁力/靜電力 |
03 | 力譜曲線 | F-Z力曲線、RMS-Z曲線 |
04 | XY掃描范圍 | 50×50um,可選20×20um,100×100um |
05 | Z掃描范圍 | 5um,可選2.5um,10um |
06 | 掃描分辨率 | 橫向0.2nm,縱向0.05nm |
07 | 樣品尺寸 | Φ≤90mm,H≤20mm |
08 | 樣品臺行程 | 25×25mm |
09 | 光學觀察 | 10X光學物鏡/1um分辨率 |
10 | 掃描速率 | 0.6Hz~30Hz |
11 | 掃描角度 | 0~360° |
12 | 運行環境 | Windows XP/7/8/10操作系統 |
13 | 通信接口 | USB2.0/3.0 |
14 | 減震設計 | 彈簧懸掛/金屬屏蔽箱 |